元素范圍從硫到鈾
檢測限1ppm
重復性0.1
測試誤差15%
分辨率160ev
X光管0-50kv
電源電壓220V
環境溫度15-30度
ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹,ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力,對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀,是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
rohs檢測儀器的原理是利用x射線熒光技術進行元素含量分析的儀器,待測樣品被x射線激發產生熒光,每種元素具有特定的熒光能量值。半導體探測技術可以檢測到熒光值,結合現代計算機技術,通過復雜的數學函數,算出待測物品的元素含量。
特的激發X光源
激光X光源、樣品激發裝置和探測系統,大大提高儀器元素的檢測靈敏度,降低檢出限。
性能、微量X熒光檢出
采用特的光路設計和雙引擎設計,并結合使用多組濾片和多組光管激發材的切換,大大地降低了儀器的信噪比,使該儀器在X熒光設備中具有的元素檢出限。
大器穩重、準確無損
大樣品腔設計,適合于不同大小和形狀的樣品測試。采用了多重信號的電路處理和濾波技術,使測試更加穩定準確。
自動化程度高、高清攝像頭
儀器多組濾片和光路自動切換,自動升降測試蓋,高清攝像頭。

根據優化產品性能和提高安全防護等級的需求,特別設計該款EDX 2000C。
應用新一代的高壓電源和X光管,提高產品的可靠性;利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。
性能優勢:
下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片:多種準直器和濾光片的電動切換,滿足各種測試方式的應用
移動平臺:精細的手動移動平臺,方便定位測試點
高分辨率探測器:提高分析的準確性
新一代高壓電源和X光管:性能穩定可靠,實現更高的測試效率
儀器配置:
移動樣品平臺
信噪比增強器
電制冷Si-PIN探測器
信號檢測電子電路
高低壓電源
新型X光管
計算機及噴墨打印機

如何選擇ROHS檢測儀呢?作為的 rohs檢測儀生產商,可以從以下幾方面入手考慮,
先要考察公司的實力,與購買其他產品一樣,要購買XRF,我們需要了解該是不是在RoHS指令期間出現。我們都知道儀器技術依賴于積累和沉淀,如果這個公司沒有長時間的技術積累,只是為RoHS而生。沒有市場認可度很可能突然蒸發,用戶將做什么以及誰將負責服務?
除了測試RoHS指令測量的元素外,儀器的某些XRF還具有其他功能。有XRF還具有厚度測量功能。以及其它成分的分析。
儀器的性能是購買儀器非常重要的指標。為什么儀器的價格相差較大,主要原因是儀器的心臟,探測器
探測器分辨率的高低決定了儀器的價格和主要性能

性能優勢
1、更便捷的操作
重量輕,體積小,人體工程學把手設計,配有儀器套,更易抓握,使用更方便。
270 °可旋轉5寸高清屏,支持多點操控,任何光線下都能清晰顯示。
密封式一體設計,具備防水防塵功能,可在惡劣環境下連續使用。
無需制備樣品,可直接對待測物表面進行測定。儀器既可手持進行快速測試,也能使用測試座對樣品進行較長時間的測試。
2、更的性能
無損快速檢測,對準即測,數秒即可報結果。性能堪比臺式機,檢測效果又快又準。
超近光路設計,提升計數率達到5倍以上,大大縮短測試時間,完全可以滿足手持檢測需求。
3、更強勁的電力
選配超大27000mAh鋰電池,續航工作時間可達三天。并配備交流和車載充電器,保證電力供應。
內置記憶電池,換電池不斷電。
4、更的配置
微型光管、SDD探測器、微型數字信號多道處理器及智能分析模塊核心技術的引入,使其具有臺式相近的測試精度。
采用超高主頻及大內存,超大存儲空間,可海量存儲數據。全新的數字多道技術,保證每秒有效采譜計數可達500kcps。
準直濾波系統,其組合達到極限12組,滿足客戶的不同條件下的檢測需求。
高清晰攝像頭,隨時觀察樣品測試位置,使測量更加精準。
5、更安全的防護
智能三色預警系統:LED三色長燈帶設計,360度無死角顯示。通電開機時綠燈亮,測試紅燈閃爍,設備故障燈閃爍,儀器狀態,一目了然。
三重安全防護功能:
a: 自動感應,沒有樣品時儀器不工作,無射線泄漏。
b: 采用加厚防護測試壁,有效防止散射。
c: 配送防護安全罩,防周邊輕基體散射。
安全聯動鎖裝置,當軟件無法控制關閉,輕輕一按,時間保護您的安全,守護后關卡。
6、更智能的軟件
EXPLORER5000T手持式鍍層測厚分析儀配有針對鍍層厚度分析的應用軟件,具有智能化、高靈敏度、測試時間短、自動判斷是否超標、操作簡易、可實現邊測邊打功能等特點。
分析原理:
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀,其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,利用上式可以計算相應被分析元素的波長,從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器,通過測定由探測器收集到的電荷量,直接獲得被測元素發出的特征射線能量:
Q=KE
式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測器產生的相應電荷量;K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息,除光譜儀外,還必須采用一定的樣品制備技術,并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
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